產(chǎn)品中心
PRODUCTS CNTER
當(dāng)前位置：首頁
產(chǎn)品中心光譜系統(tǒng)
產(chǎn)品分類
相關(guān)文章
●可測(cè)量稀薄溶液~濃厚溶液的ZETA電位和粒徑，并可進(jìn)行分子量測(cè)量的檢測(cè)裝置。 ●適用于粒徑測(cè)量范圍（0.6nm~10um）,濃度范圍（0.00001%~40%）。
更新時(shí)間：2025-11-09
產(chǎn)品型號(hào)：
瀏覽量：778
利用顯微微分光膜厚計(jì)OPTM series的高精度、微小光點(diǎn)，在線提供制作晶片圖案后的微小區(qū)域測(cè)量等膜厚信息。
更新時(shí)間：2025-11-09產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：635
●Φ支持到300mmEFM單元備用端口的集成 ●實(shí)現(xiàn)嵌入在晶片中的布線圖案的圖案對(duì)齊 ●支持半導(dǎo)體工藝的高吞吐量要求 ●支持槽口對(duì)齊功能 ●小尺寸規(guī)格 ●高精度自動(dòng)校準(zhǔn)單元
更新時(shí)間：2025-11-09產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：715
半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)儀利用亮場(chǎng)和暗場(chǎng)顯微成像技術(shù)，通過自動(dòng)化的圖像捕捉以及人工智能分析工具，為晶圓表面缺陷的檢測(cè)提供了快速且高效的解決方案。
更新時(shí)間：2025-11-09產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：9044
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測(cè)試系統(tǒng)可測(cè)量濃度低的溶液～濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。
更新時(shí)間：2025-11-09產(chǎn)品型號(hào)：ELSZ-2000系列瀏覽量：7637
光電流測(cè)試是一種用于測(cè)量器件或材料的光電性能的測(cè)試方法，主要應(yīng)用于半導(dǎo)體器件、光電器件、太陽能電池等領(lǐng)域。
更新時(shí)間：2025-11-09產(chǎn)品型號(hào)：S-LBIC瀏覽量：2373公司郵箱： qgao@buybm.com
服務(wù)熱線： 021-61052039
公司地址： 上海市浦東新區(qū)疊橋路456弄?jiǎng)?chuàng)研智造C7區(qū)301室
Copyright © 2025 上海波銘科學(xué)儀器有限公司 AlL Rights Reserved
備案號(hào)：滬ICP備19020138號(hào)-2
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml
