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當前位置:首頁產品中心光譜系統漫反射率測試系統S-MRS系列漫反射率測試系統

漫反射率測試系統

產品簡介

漫反射率測試系統光度測量準確度:1%以內(紫外-可見區),2%以內;(近紅外區),漫反射率測試系統光度測量重復性:1% (450nm-1800nm) ;測試試樣尺寸(典型):直徑大于15mm,若同時測試透過率,則樣品厚度必須小于5mm

產品型號:S-MRS系列
更新時間:2025-07-23
廠商性質:生產廠家
訪問量:2219
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S-MRS系列漫反射率測試系統應用:

• 光譜測量范圍:350-2500nm ;光譜分辨率:2nm以下;光譜掃描步距:0.2-100nm可連續設置

• 波長準確度:優于±0.2nm(紫外-可見區),優于±0.5nm;(近紅外區)

• 光度測量準確度:1%以內(紫外-可見區),2%以內;(近紅外區)

• 光度測量重復性:1% (450nm-1800nm) ;測試試樣尺寸(典型):直徑大于15mm,若同時測試透過率,則樣品厚度必須小于5mm

S-MRS系列漫反射率測試系統特點

• 光譜測量范圍:350-2500nm ;光譜分辨率:2nm以下;光譜掃描步距:0.2-100nm可連續設置

• 波長準確度:優于±0.2nm(紫外-可見區),優于±0.5nm;(近紅外區)

• 光度測量準確度:1%以內(紫外-可見區),2%以內;(近紅外區)

• 光度測量重復性:1% (450nm-1800nm) ;測試試樣尺寸(典型):直徑大于15mm,若同時測試透過率,則樣品厚度必須小于5mm

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