Keithley 4200半導體特性分析系統

產品簡介
Keithley 4200半導體特性分析系統
使用 4200A加快半導體設備、材料和工藝開發的探索、可靠性和故障分析研究。 .高性能參數分析儀，提供同步電流-電壓（I-V）、電容-電壓（C-V）和超快脈沖 I-V 測量

產品型號：

更新時間：2025-07-24

廠商性質：生產廠家

訪問量：2727

產品咨詢 18117546256

產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

電子數據采集器

Keithley數字源表數據采集卡頻譜分析儀光子計數器激光快門控制系統激光二極管驅動器數字延時發生器前置放大器斬波器鎖相放大器

半導體參數分析儀是一種集多種測量和分析功能于一體的測試儀器

詳細介紹在線留言

Keithley 4200半導體特性分析系統

• 使用 4200A加快半導體設備、材料和工藝開發的探索、可靠性和故障分析研究。 .高性能參數分析儀，提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 測量。

• 內置測量視頻采用英語、中文、日語和韓語

• 使用數百個用戶可修改應用測試開始您的測試

• 自動實時參數提取、數據繪圖、算數函數

• 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換無需重新布線即可將 C-V 測量移動到任何設備終端

• 用戶可配置低電流功能，個性化輸出通道名稱，查看實時測試狀態

• NBTI/PBTI 測試，隨機電報噪聲，非易失內存設備，穩壓器應用測試

型號	說明
4200A-SCS-PK1	210V/100mA，0.1 fA 分辨率，對于兩端和三端設備，MOSFET、CMOS 檢定套件4200A-SCS-PK1 包括：
高分辨率 IV 套件	• 4200A-SCS 參數分析儀
	• 4200-SMU 模塊
	• 4200-PA 前置放大器
	• 8101-PIV 測試夾具與采樣設備
4200A-SCS-PK2	210V/100mA，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz，對于高 K 電解質，深亞微米 CMOS 檢定套件4200A-SCS-PK2
高分辨率 IV 和 CV 套件	包括：
	• 4200A-SCS 參數分析儀
	• 4200-SMU 模塊
	• 4200-PA 前置放大器
	• 4210-CVU 電容-電壓模塊
	• 8101-PIV 測試夾具與采樣設備
4200A-SCS-PK3	210V/1A，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz，對于功率設備、高 K 電解質，深亞微米 CMOS 設備檢定套件
高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件	4200A-SCS-PK3 包括：
	• 4200A-SCS 參數分析儀
	• 4200-SMU 模塊
	• 4210-SMU
	• 4200-PA 前置放大器
	• 4210-CVU 電容-電壓模塊
	• 8101-PIV 測試夾具與采樣設備
4200-BTI-A	用于使用尖.端 CMOS 技術套件進行復雜的 NBTI 和 PBTI 測量4200-BTI-A 包括：
超快 NBTI/PBTI 套件	• 4225-PMU 超快 I-V 模塊
	• 4225-RPM 遠程前置放大器/開關模塊
	• 自動化檢定套件 (ACS) 軟件
	• 超快 BTI 測試項目模塊
	• 電纜

Keithley 4200半導體特性分析系統

上一個：Keithley 2614B數字源表

返回列表

下一個：OP-BA系列鋁合金光學平板

在線留言

国产午夜不卡av免费丨亚洲天堂2017手机在线丨国产第19页精品丨国产日韩一区av丨色综合欧美色综合七久久

產品簡介
Keithley 4200半導體特性分析系統
使用 4200A加快半導體設備、材料和工藝開發的探索、可靠性和故障分析研究。 .高性能參數分析儀，提供同步電流-電壓（I-V）、電容-電壓（C-V）和超快脈沖 I-V 測量

Keithley 4200半導體特性分析系統

留言框

產品：

您的單位：

您的姓名：

聯系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細地址：

補充說明：

驗證碼：

国产午夜不卡av免费丨亚洲天堂2017手机在线丨国产第19页精品丨国产日韩一区av丨色综合欧美色综合七久久

產品簡介 Keithley 4200半導體特性分析系統使用 4200A加快半導體設備、材料和工藝開發的探索、可靠性和故障分析 研究。 .高性能參數分析儀，提供同步電流-電壓 （I-V）、電容-電壓 （C-V） 和超快脈沖 I-V 測量

Keithley 4200半導體特性分析系統

留言框

產品：

您的單位：

您的姓名：

聯系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細地址：

補充說明：

驗證碼：

產品簡介
Keithley 4200半導體特性分析系統
使用 4200A加快半導體設備、材料和工藝開發的探索、可靠性和故障分析研究。 .高性能參數分析儀，提供同步電流-電壓（I-V）、電容-電壓（C-V）和超快脈沖 I-V 測量