alpha300 R顯微拉曼成像光譜儀

產品簡介
一直以來，WITec alpha300 R 拉曼顯微系統以其世界前沿的成像技術倍受認可，靈活、快速、高靈敏度、高性能等特性，使其成為共聚焦拉曼成像市場的帶頭人。
WITec 也始終堅持聚焦創新，不斷引進新技術，這也是 alpha300 R 快速拉曼成像技術始終保持較強的重要基礎。
alpha300 R 成像系統靈活的模塊化設計，能夠結合不同的成像技術來滿足新的擴展需求，為客戶提供、定制不同的解決方

產品型號：

更新時間：2025-07-29

廠商性質：生產廠家

訪問量：22

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產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

光譜系統

拉曼光譜熒光光譜顯微缺陷膜厚半導體晶圓缺陷檢測儀高光譜測試系統瞬態吸收系統太陽能電池量子效率太陽光模擬器IV系統顯微光電流成像系統探測器光響應度系統光譜變溫附件探針臺拉曼SERS增強試劑熒光系統組合熒光系統鏡頭透過率測試系統漫反射率測試系統反射、吸收率系統成像亮度計標準燈參考輻射定標電致發光系統常規發射光譜系統共聚焦拉曼光譜儀

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主要特性

共聚焦拉曼成像，具有最高速度，高靈敏度和高分辨率
高光譜圖像中每個樣品點都能獲取一張完整的拉曼光譜
優異的橫向分辨率
出色的縱向分辨率，非常適于3D成像和深度分析
超快速拉曼成像，單譜積分時間1毫秒以下
采用超高通光量的鏡頭采譜，獲得最高的靈敏度和最佳的光譜分辨率
無損成像技術：無需對樣品進行染色或標記

應用實例

alpha300 R顯微拉曼成像光譜儀

金剛石薄膜應力變化的共聚焦拉曼圖像，顏色變化反應應力變化。
紅色：壓縮應變，藍色：拉伸應變。

alpha300 R顯微拉曼成像光譜儀

結晶蜂蜜中花粉的3D拉曼圖像。掃描點數：150x150x50= 1,125,000張拉曼光譜，掃描區域：50μmx50μmx50μm，單譜的積分時間：12.2毫秒，總采集時間：3小時50分鐘。

alpha300 R顯微拉曼成像光譜儀

半導體GaN層的拉曼縱向深度掃描。紫色：GaN；綠色：結構邊緣的熒光; 紅色：材料應力。

alpha300 R顯微拉曼成像光譜儀

油（綠色）、烷烴（品紅色）和水（藍色）的3D共聚焦拉曼圖像。
掃描點數：150×150×23 =517,500張拉曼光譜，掃描區域：30μm×30μm×11.5μm，總采集時間：23分鐘。

技術規格

拉曼常規操作模式

拉曼光譜成像：每個樣品點都能獲取一張完整的拉曼光譜
平面（x-y方向）和縱向（z方向）手動定位樣品進行掃描
圖像疊加：3D共焦拉曼成像
時間序列
單點拉曼光譜采集
單點深度序列采集
光纖耦合超高通量光譜儀 (UHTS)，專為弱光拉曼顯微鏡設計
共聚焦熒光顯微鏡
明場顯微鏡

基本特征

科研級別的6孔物鏡轉輪光學顯微鏡
攝像系統: CCD相機
LED 白光光源科勒照明
x-y方向上手動樣品定位
光纖耦合

拉曼可選/可升級的操作模式

可選多種激發波長
可選多種超高通量光譜儀 (UV, VIS, NIR)
自動化的電動樣品定位和采譜，25 mm平移范圍（50 mm可選）
自動共聚焦拉曼成像
自動多區域多點測量
全自動化：詳見 alpha300 apyron
可選超快速拉曼成像
可升級落射熒光應用
可配置用于更高樣本的適配器
TrueSurface 深度分析
自動對焦
可選：暗場顯微鏡，相差顯微鏡和微分干涉（DIC）顯微鏡

超高通量光譜儀 UHTS

基于各種鏡頭和激發波長優化的光譜儀（UV，VIS或NIR），專為拉曼顯微鏡和弱信號應用設計
光纖耦合超高通量光學系統
光譜峰形對稱無像差

軟件界面

配備 WITec 專業軟件，用于儀器控制、數據采集和數據處理

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主要特性

應用實例

技術規格

拉曼常規操作模式

基本特征

拉曼可選/可升級的操作模式

超高通量光譜儀 UHTS

軟件界面

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