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當前位置:首頁產品中心光譜系統顯微缺陷膜厚QE-2000熒光量子效率測試系統

熒光量子效率測試系統

產品簡介

QE-2000熒光量子效率測試系統瞬間測量絕.對量子效率。適用于粉末、溶液、固體(膜)、薄膜樣品的測量。通過低雜散光多通道分光檢出器,大大減少了紫外區域 的雜散光。

產品型號:QE-2000
更新時間:2025-07-23
廠商性質:生產廠家
訪問量:2125
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QE-2000熒光量子效率測試系統

  • QE-2000瞬間測量絕.對量子效率。適用于粉末、溶液、固體(膜)、薄膜樣品的測量。通過低雜散光多通道分光檢出器,大大減少了紫外區域 的雜散光。另采用了積分半球unit,實現了明亮的光學系的同時,運用其再激發熒光補正的優點,可進行高精度的測量。

  • 高精度測量(zhuan.利:5150939號):使用低雜散光光譜儀MCPD系列

  • 多次激發補正(zhuan:3287775號、4631080號):大.程度降低樣品所反射的激發光再次照射樣品帶來的多次激發, 對粉末和固體測試精度提高明顯

  • 使用積分半球(zhuan:4216314號):是普通積分球測試效率的2倍,更易于樣品的裝夾,更換簡單

  • 多種樣品都能對應:粉體、溶液、薄膜、固體等等

  • 可添加溫控系統:-30~300℃


QE-2000熒光量子效率測試系統

型號

3683C

311C

2580C

3095C

波長范圍

360-830nm

360-1100nm

250-800nm

300-950nm

像元波長寬度

1.0nm

0.5nm

1.6nm

0.8nm

1.2nm

0.6nm

1.4nm

0.7nm

像元數

512

1024

512

1024

512

1024

512

1024

CCD

電子冷卻式CCD圖像傳感器

AD轉換精度

16 bit

單色器配置

F/#=3, f=85.8mm

光源

150W氙燈

激發波長

250-800nm

帶寬

FWHM 5nm/slit 0.6mm

樣品抗光裝置

自動關閉裝置

激發波長控制

自動控制

積分球材質

Spectralon(美國Labsphere公司zhuan.利材料名)

尺寸

150mm 半球

粉末測試樣 品座

SU304

溶液樣品池

石英制溶液比色皿


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