WT-2000半導體多功能測試

產品簡介
WT-2000提供349nm，904nm，1064nm，1550nm等不同激發光，適合Si，SiC，GaAs，CdZnTe，InGaAs等各種材料電學參數測試。

產品型號：

更新時間：2025-07-24

廠商性質：生產廠家

訪問量：605

產品咨詢 18117546256

產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

半導體材料測試

體微缺陷測試霍爾電阻遷移率光伏光致發光深能級瞬態譜測試橢偏拉曼AFM 半導體多功能測試 CV測試系統集成測試儀器租賃

查看全部產品

光柵單色儀通常由以下主要組件組成

科研之眼：探索微觀世界的超高清CCD相機之旅

掩膜版缺陷修復措施有以下幾種

激光修補機怎么使用？

詳細介紹在線留言

· Measurement Options.
· μ-PCD 技術做少子壽命掃描測試
· 表面光電壓(SPV)做擴散長度面掃描測試
· 光誘導電流(LBIC)測試材料缺陷分布
· 測試特定金屬雜質和沾污:Fe
· 渦流法測試電阻率
· 4探針測試電阻率

WT-2000半導體多功能測試

上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統。經過多年的發展，上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產品和服務在行業內具有較高的知zhi名度和美譽度，客戶遍布全國。我們將繼續努力，不斷提升市場地位和影響力。

上一個：WT-1200A 單點式少子壽命測試系統