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當前位置:首頁產品中心半導體材料測試CV測試CV-1500非接觸CV測試系統

CV-1500非接觸CV測試系統

產品簡介

CV-1500,用于測試界面和介電層的科研平臺,基于SDI Corona-Kelvin技術,可以進行非接觸C-V/I-V測試。

產品型號:
更新時間:2025-07-24
廠商性質:生產廠家
訪問量:942
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Capability:

  • Semiconductor Surface Barrier-Vsb 表面勢壘

  • Oxide Total Charge -Qtot 氧化物總電荷

  • Interface Trapped Charge-Qit 界面電荷

  • Interface Trap Density-Dit 界面態密度

  • Di Spectrum:Dit vs. Vsb

  • Dielectric Capacitance -CD and thickness -CET 介電層電容和電學總厚度

  • Dielectric Leakage 介電層漏電

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上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統。經過多年的發展,上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產品和服務在行業內具有較高的知zhi名度和美譽度,客戶遍布全國。我們將繼續努力,不斷提升市場地位和影響力。

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