汞探針測試

產品簡介
LEI Model2017B，通過汞探針接觸方法，對各類半導體材料的載流子濃度分布進行測試，特別適合GaN.SiC等化合物材料。

產品型號：LEI Model2017B

更新時間：2025-07-24

廠商性質：生產廠家

訪問量：716

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半導體材料測試

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