產(chǎn)品中心
PRODUCTS CNTER
產(chǎn)品分類
相關文章
WT-2000MCT/μ LBIC 適用于對超低溫有特殊要求的材料，比如HgCdTe,InSb,GaAs,InGaAs等，它已被廣泛用于化合物材料的缺陷，雜質(zhì)和光電效率等參數(shù)表征。
更新時間：2025-11-09
產(chǎn)品型號：
瀏覽量：763
WT-2000提供349nm，904nm，1064nm，1550nm等不同激發(fā)光，適合Si，SiC，GaAs，CdZnTe，InGaAs等各種材料電學參數(shù)測試。
更新時間：2025-11-09產(chǎn)品型號：瀏覽量：933
WT-1200A 是單點式少子壽命測試系統(tǒng)，具備無接觸等優(yōu)點。
更新時間：2025-11-09產(chǎn)品型號：瀏覽量：1033
半導體參數(shù)分析儀型號有Keysight B1500A系列、Keithley 4200系列
更新時間：2025-11-09產(chǎn)品型號：瀏覽量：2307
網(wǎng)絡分析儀主要特性和功能：$n· 具有緊湊型頻率擴展器的單次掃描解決方案$n· 可以作為單個產(chǎn)品解決方案一次性購買$n· 對器件施加精確的調(diào)平功率，進行功率掃描$n· 提供各種應用軟件，幫助您進行詳細分析
更新時間：2025-11-09產(chǎn)品型號：PNA系列、ENA、PXI VNA瀏覽量：3521公司郵箱： qgao@buybm.com
服務熱線： 021-61052039
公司地址： 上海市浦東新區(qū)疊橋路456弄創(chuàng)研智造C7區(qū)301室
Copyright © 2025 上海波銘科學儀器有限公司 AlL Rights Reserved
備案號：滬ICP備19020138號-2
技術支持：化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml
關于我們
公司簡介 企業(yè)文化 榮譽資質(zhì) 聯(lián)系我們快速通道
產(chǎn)品中心 新聞中心 技術文章 在線留言推薦產(chǎn)品
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 半導體晶圓缺陷檢測儀 ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng) RU120便攜式拉曼光譜儀
當前位置：